Исследование оптических свойств сверхтонких пленок на основе силицида металлов
- Авторы: Керимов Э.А.1
- 
							Учреждения: 
							- Азербайджанский государственный технический университет
 
- Выпуск: Том 52, № 2 (2023)
- Страницы: 160-164
- Раздел: ТЕХНОЛОГИИ
- URL: https://rjeid.com/0544-1269/article/view/655289
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0544126923700229
- EDN: https://elibrary.ru/PYLCTO
- ID: 655289
Цитировать
Полный текст
 Открытый доступ
		                                Открытый доступ Доступ предоставлен
						Доступ предоставлен Доступ платный или только для подписчиков
		                                							Доступ платный или только для подписчиков
		                                					Аннотация
При исследовании оптических свойств тонких пленок для получения достоверных сведений о величине их оптических постоянных необходимо точно измерят толщины металла. Измерение толщины 600 < d < 1500 А0 проводились методом многолучевой интерферометрии и резонансно-частотным методом.
Об авторах
Э. А. Керимов
Азербайджанский государственный технический университет
							Автор, ответственный за переписку.
							Email: E_Kerimov.fizik@mail.ru
				                					                																			                												                								Азербайджан, AZ 1073, Баку, пр. Г. Джавида 35						
Список литературы
- Тришенков М.А. Фотоприемные устройства и ПЗС. М.: Радио и связь, 1992. 400 с.
- Elliott C.T. Future infrared detector technologies // Fourth Int. Conf. on Advanced Infrared Detectors and Systems. 1990. P. 61–66.
- Byrne C.F., Knowles P. Infrared formed in mercury cadmium telluride grown by MOCVD // Semicond. Sci. Technol. 1988. № 3. P. 377–381.
- Иевлев В.М., Солдатенко С.А., Кущев С.Б. и др. Эффект фотонной активации синтеза пленок силицидов в гетеросистеме (111) Si–Ni–Pt // Конденсированные среды и межфазные границы. 2010. Т. 9. № 3. С. 216–227.
Дополнительные файлы
 
				
			 
						 
						 
						 
					 
						 
									

 
  
  
  Отправить статью по E-mail
			Отправить статью по E-mail 





