Ustoychivost' formirovaniya izobrazheniya s ispol'zovaniem terastrui otnositel'no sdviga puchka

Cover Page
  • Authors: Poddubskaya O.G.1, Novitskiy A.V.2, Minin O.V.3,4, Minin I.V.3,4,5
  • Affiliations:
    1. Институт ядерных проблем Белорусского государственного университета
    2. Белорусский государственный университет
    3. Томский политехнический университет
    4. Сибирский государственный университет геосистем и технологий
    5. Новосибирский филиал Института физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН, “Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники”
  • Issue: Vol 119, No 9-10 (2024)
  • Pages: 658-667
  • Section: Articles
  • URL: https://rjeid.com/0370-274X/article/view/664271
  • DOI: https://doi.org/10.31857/S1234567824090052
  • EDN: https://elibrary.ru/KEPNIG
  • ID: 664271

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription or Fee Access

Abstract

Экспериментально продемонстрирован эффект смещения изображения при асимметричном облучении диэлектрической сферы гауссовым терагерцовым пучком в системах терагерцового имиджинга. На основе численных расчетов, выполненных с использованием операторной теории рассеяния, было показано искривление области локализации электромагнитного поля вблизи теневой поверхности диэлектрической сферы при ее смещении относительно центра перетяжки гауссова пучка, приводящие к формированию так называемого “фотонного крючка”, свойства которого зависят от поляризациии и частоты падающего излучения. Экспериментально продемонстрирована возможность достижения пространственного разрешения уровня 0.38λ в исследуемом диапазоне. Полученные результаты могут использоваться для повышения разрешающей способности коммерческих сканирующих терагерцовых систем.

About the authors

O. G. Poddubskaya

Институт ядерных проблем Белорусского государственного университета

Email: paddubskaya@gmail.com
Минск, Беларусь

A. V. Novitskiy

Белорусский государственный университет

Минск, Беларусь

O. V. Minin

Томский политехнический университет; Сибирский государственный университет геосистем и технологий

Томск, Россия; Новосибирск, Россия

I. V. Minin

Томский политехнический университет; Сибирский государственный университет геосистем и технологий; Новосибирский филиал Института физики полупроводников им. А. В. Ржанова Сибирского отделения РАН, “Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники”

Томск, Россия; Новосибирск, Россия; Новосибирск, Россия

References

  1. A. Glagolewa-Arkadiewa, Nature 113, 640 (1924).
  2. Y. H. Tao, A. J. Fitzgerald, an V. P. Wallace, Sensors 20, 1424 (2020).
  3. A. Leitenstorfer, A. S. Moskalenko, T. Kampfrath et al. (Collaboration), J. Phys. D: Appl. Phys. 56, 223001 (2023).
  4. Y. Huang, Y. Shen, and J. Wang, Engineering 22, 106 (2023).
  5. K. Yamada, Y. Samura, O. V. Minin, A. Kanno, N. Sekine, J. Nakajima, I. V. Minin, and S. Hisatake, Frontiers in Communications and Networks 2, 2673 (2021).
  6. Н. В. Черномырдин, А.О. Щадько, С. П. Лебедев, И. Е. Спектор, В. Л. Толстогузов, А. С. Кучерявенко, К. М. Малахов, Г. А. Командин, В. С. Горелик, К. И. Зайцев, Оптика и спектроскопия 124, 420 (2018).
  7. T. R. Globus, D. L. Woolard, T. Khromova, T. W. Crowe, M. Bykhovskaia, B. L. Gelmont, J. Hesler, ad A. C. Samuels, Journal of Biological Physics 29, 89 (2003).
  8. Y. Huang, X. Yang, and J. Li, J. Appl. Polym. Sci. 140, e54737 (2023).
  9. P. Kuzel and H. Nemec, Adv. Opt. Mater. 8, 1900623 (2020).
  10. O. В. Минин, И. В. Минин, Квантовая электроника 52, 13 (2022).
  11. N. Chopra and J. Lloyd-Hughes, J. Infrared Millim. Terahertz Waves 44, 981 (2023).
  12. C. Bruckner, G. Notni, and A. Tunnermann, Optik 121, 113 (2010).
  13. Y. H. Lo and R. Leonhardt, Opt. Express 16, 15991 (2008).
  14. A. Pimenov and A. Loidl, Appl. Phys. Lett. 83, 4122 (2003).
  15. D.-H. Choi, J.-H. Shin, I.-M. Lee, and K. H. Park, Sensors 21, 1424 (2021).
  16. D.-H. Choi, M. Kim, D.W. Park, E. S. Lee, and I.-M. Lee, Optics & Laser Technology 174, 110557 (2024).
  17. H. H. Nguyen Pham, S. Hisatake, O. V. Minin, T. Nagatsuma, and I. V. Minin, APL Photonics 2, 056106 (2017).
  18. V. Pacheco-Pena, M. Beruete, I. V. Minin, and ˜ O. V. Minin, Appl. Phys. Lett. 105, 084102 (2014).
  19. A. Mandal and V. R. Dantham, J. Opt. Soc. Am.B 37, 977 (2020).
  20. A. Heifetz, S.-C. Kong, A. V. Sahakian, A. Taflove, and V. Backman, Journal of Computational and Theoretical Nanoscience 6, 1979 (2009).
  21. A. Mandal, P. Tiwari, P. K. Upputuri, and V. R. Dantham, Sci. Rep. 12, 173 (2022).
  22. L. Yue, Z. Wang, B. Yan, J. N. Monks, Y. Joya, R. Dhama, O. V. Minin, and I. V. Minin, Annalen der Physik 532, 2000373 (2020).
  23. A. L. S. Cruz, C. M. B. Cordeiro, and M. A. R. Franco, Proc. SPIE 9634, 963412 (2015).
  24. A. G. Paddubskaya, N. I. Valynets, A. V. Novitsky, I. V. Minin, and O. V. Minin, J. Phys. D: Appl. Phys. 57,145104 (2024).
  25. S. Hunsche, M. Koch, I. Brener, and M. C. Nuss, Opt. Commun. 150, 22 (1998).
  26. R. Chen, J. Lin, P. Jin, M. Cada, and Y. Ma, Photonic nanojets generated by rough surface micro-cylinders, in 2015 IEEE 28th Canadian Conference on Electrical and Computer Engineering (CCECE), Halifax, NS, Canada (2015), p. 1393; doi: 10.1109/CCECE.2015.7129483.
  27. M. Kerker, The scattering of light and other electromagnetic radiation, John Wiley and Sons Inc, N.Y. (1969), 688 p.
  28. A. Orych, The International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences XL-1/W4, 391 (2015).
  29. R. I. Stantchev, B. Sun, S.M. Hornett, P. A. Hobson, G. M. Gibson, M. J. Padgett, and E. Hendry, Sci. Adv. 2, e1600190 (2016).
  30. R. I. Stantchev, D. B. Phillips, P. Hobson, S.M. Hornett, M. J. Padgett, and E. Hendry, Optica 4, 989 (2017).
  31. S.-C. Chen, L.-H. Du, K. Meng, J. Li, Z.-H. Zhai, Q.-W. Shi, Z.-R. Li, and L.-G. Zhu, Opt. Lett. 44, 21 (2019).
  32. A. Novitsky and L. Barkovsky, Phys. Rev. A 77, 033849 (2008).
  33. A. Novitsky, C.-W. Qiu, and H. Wang, Phys. Rev. Lett. 107, 203601 (2011).

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download

Copyright (c) 2024 Российская академия наук