Исследование тонких пленок MoO3 и TixMoyOz, полученных атомно-слоевым осаждением
- Авторы: Максумова А.М.1, Бодалев И.С.2, Абдулагатов И.М.1, Рабаданов М.Х.1, Абдулагатов А.И.1
- 
							Учреждения: 
							- Дагестанский государственный университет
- Санкт-Петербургский государственный технологический институт
 
- Выпуск: Том 69, № 1 (2024)
- Страницы: 110-119
- Раздел: НЕОРГАНИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ И НАНОМАТЕРИАЛЫ
- URL: https://rjeid.com/0044-457X/article/view/666017
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0044457X24010136
- EDN: https://elibrary.ru/ZYWEVC
- ID: 666017
Цитировать
Полный текст
 Открытый доступ
		                                Открытый доступ Доступ предоставлен
						Доступ предоставлен Доступ платный или только для подписчиков
		                                							Доступ платный или только для подписчиков
		                                					Аннотация
Проведено ex situ исследование молибденоксидных (MoO3) и титан-молибденовых оксидных (TixMoyOz) тонких пленок, полученных при 150°С методом атомно-слоевого осаждения с использованием тетрахлорида титана (TiCl4), оксотетрахлорида молибдена (MoOCl4) и воды. Атомно-слоевое осаждение TixMoyOz проводили с использованием суперциклов, состоящих из субциклов ТiCl4/H2O и MoOCl4/H2O. В работе получены два типа пленок TixMoyOz, в которых соотношение субциклов составляло 1 : 1 (1Ti1MoO) и 1 : 7 (1Ti7MoO). Методами спектроскопической эллипсометрии и рентгеновской рефлектометрии определена постоянная роста пленок. Методом рентгеновской рефлектометрии определены также значения плотности и среднеквадратичной шероховатости пленок. При помощи рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии установлен состав пленок и выяснено, что степень окисления молибдена в пленках MoO3 и 1Ti7MoO равна +6, а в пленке 1Ti1MoO обнаружен молибден в степени окисления +5 и +6. Рентгенодифракционный анализ показал, что полученные пленки имеют аморфную структуру.
Полный текст
 
												
	                        Об авторах
А. М. Максумова
Дагестанский государственный университет
														Email: ilmutdina@gmail.com
				                					                																			                												                	Россия, 							ул. Гаджиева, 43а, Махачкала, 367000						
И. С. Бодалев
Санкт-Петербургский государственный технологический институт
														Email: ilmutdina@gmail.com
				                					                																			                												                	Россия, 							Московский пр-т, 26, Санкт-Петербург, 190013						
И. М. Абдулагатов
Дагестанский государственный университет
							Автор, ответственный за переписку.
							Email: ilmutdina@gmail.com
				                					                																			                												                	Россия, 							ул. Гаджиева, 43а, Махачкала, 367000						
М. Х. Рабаданов
Дагестанский государственный университет
														Email: ilmutdina@gmail.com
				                					                																			                												                	Россия, 							ул. Гаджиева, 43а, Махачкала, 367000						
А. И. Абдулагатов
Дагестанский государственный университет
														Email: ilmutdina@gmail.com
				                					                																			                												                	Россия, 							ул. Гаджиева, 43а, Махачкала, 367000						
Список литературы
- Goodenough J.B. Chemistry and Uses of Molybdenum. Colorado: Climax Molybdenum Corp., 1982.
- Deb S.K. Physical Properties of a Transition Metal Oxide: Optical and Photoelectric Properties of Single Crystal and Thin Film Molybdenum Trioxide. London: Proc. R. SOC., 1968.
- Jiang Y., Yan X., Cheng Y. et al. // RSC Advances. 2019. V. 9. № 23. P. 13207. https://doi.org/10.1039/C8RA10232E
- Chen Y., Lu Ch., Xu L. et al. // Cryst. Eng. Comm. 2010. V. 12. P. 3740. https://doi.org/10.1039/C000744G
- Huang L., Hu L., Zhang R. et al. // Appl. Surf. Sci. 2013. V. 283. P. 25. 10.1016/j.apsusc.2013.05.106
- Lin Sh.-Yu., Wang Ch.-M., Kao K.-Sh. et al. // J. Sol-Gel Sci. Technol. 2010. V. 53. № 1. P. 51. http://dx.doi.org/10.1007/s10971-009-2055-6
- Mai L., Hu B., Chen W. et al. // Adv. Mater. 2007. V. 19. № 21. P. 3712. https://doi.org/10.1002/adma.200700883
- Rahmani M.B., Keshmiri S.H., Yu J. et al. // Sensor. Actuat. B-Chem. 2010. V. 145. № 1. P. 13. https://doi.org/10.1016/J.SNB.2009.11.007
- Huang J-G., Guo Xu-T., Wang B. et al. // J. Spectrosc. 2015. V. 2015. P. 681850. https://doi.org/10.1155/2015/68185010.
- Liu H., Ting L., Zhu Ch., Zhu Zh. // Sol. Energy Mater. Sol. Cells. 2016. V. 153. P. 1. https://doi.org/10.1016/j.solmat.2016.04.013
- Sreedhar M., Brijitta J., Reddy I.N. et al. // Surf. Interface Anal. 2017. V. 50. № 2. P. 171. https://doi.org/10.1002/sia.6355
- Zhang J., Huang T., Zhang L., Yu A. // J. Phys. Chem. C. 2014. V. 118. № 44. P. 25300. https://doi.org/10.1021/jp506401q
- Galatsis K., Li Y.X., Wlodarski W. et al. // Sensor. Actuat. B-Chem. 2002. V. 3. №1–3. P. 276. https://doi.org/10.1016/S0925-4005(01)01072-3
- Максумова А.М., Абдулагатов И.М., Палчаев Д.К. и др. // Журн. физ. химии. 2022. Т. 96. Вып. 10. С. 1490. https://doi.org/10.31857/S0044453722100181
- Кольцов С.И., Алесковский В.Б. // Тез. докл. Науч.-техн. конф. ЛТИ им. Ленсовета. Ленинград. 1965. С. 67.
- Малыгин А.А. // Сб. тез. докл. III Междунар. семинара “Атомно-слоевое осаждение: Россия, 2021”. СПб., 2021. С. 13.
- George S.M. // Chem. Rev. 2010. V. 110. № 1. P. 111. https://doi.org/10.1021/cr900056b
- Соснов Е.А., Малков А.А., Малыгин А.А. // Журн. прикл. химии. 2021. T. 94. № 8. С. 967. https://doi.org/10.31857/S0044461821080028
- Кольцов С.И., Громов В.К., Алесковский В.Б. Исследование методом иммерсионной эллипсометрии системы монокристаллический кремний — сверхтонкий слой оксида титана, синтезированный методом молекулярного наслаивания. Эллипсометрия — метод исследования поверхности. Новосибирск: Наука, 1983.
- Громов В.К., Кольцов С.И. Аномальное поведение эллипсометрических параметров системы подложка — титанкислородный слой, наблюдаемое в процессе синтеза слоя методом молекулярного наслаивания на поверхности диэлектриков, полупроводников, металлов. Эллипсометрия — метод исследования поверхности. Новосибирск: Наука, 1983.
- Кольцов С.И., Яковлев А.С., Бухалов Л.Л. // Поверхность. 1992. T. 5. C. 75.
- Sintonen S., Ali S., Ylivaara O.M.E. et al. // J. Vac. Sci. Technol., A. 2014. V. 32. № 1. P. 01A111. https://doi.org/10.1116/1.4833556
- Ishi D., Ishikawa K., Numazawa M. et al. // Appl. Phys. Express. 2020. V. 13. P. 087001. https://doi.org/10.35848/1882-0786/aba7a5
- Jensen J.M., Oelkers A.B., Toivola R. et al. // Chem. Mater. 2002. V. 14. № 5. P. 2276. https://doi.org/10.1021/cm011587z
- Kokkonen E., Kaipio M., Nieminen H.-E. et al. // Rev. Sci. Instrum. 2022. V. 93. P. 01390. https://doi.org/10.1063/5.0076993
- Motamedi P., Cadien K. // Appl. Surf. Sci. 2014. V. 315. P. 104. http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2014.07.105
- Haynes W.M. CRC Handbook of Chemistry and Physics. Boca Raton: CRC, 2014.
- Pershina V., Fricke B. // Russ. J. Phys. Chem. 1995. V. 99. № 1. P. 144.
- Puurunen R.L., Vandervorst W. // J. Appl. Phys. 2004. V. 96. № 12. P. 7686. http://dx.doi.org/10.1063/ 1.1810193
- Kvalvik J.N., Borgersen J., Hansen P.-A. et al. // J. Vac. Sci. Technol. A. 2020. V. 38. P. 042406. https://doi.org/ 10.1116/6.0000219#suppl
- Mouat A.R., Mane A.U., Elam J.W. et al. // Chem. Mater. 2016. V. 28. № 6. P. 1907. https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.6b00248
- Diskus M., Nilsen O., Fjellva H. // J. Mater. Chem. 2011. V. 21. P. 705. https://doi.org/10.1039/C0JM01099E
- Mattinen M., King P.J., Khriachtcheva L. et al. // Mater. Today Chem. 2018. V. 9. P. 17. https://doi.org/10.1016/j.mtchem.2018.04.005
- Jurca T., Peters A.W., Mouat A.R. et al. // Dalton Trans. 2017. V. 46. P. 1172. https://doi.org/10.1039/C6DT03952A
- Vos M.F.J., Macco B., Thissen N.F.W. et al. // J. Vac. Sci. Technol. A. 2016. V. 34. P. 01A103. https://doi.org/10.1116/1.4930161
- Абдулагатов А.И., Максумова А.М., Палчаев Д.К. и др. // Журн. прикл. химии. 2021. Т. 94. № 7. С. 835. https://doi.org/10.1134/S1070427221070053
- Abdulagatov A.I., Maksumova A.M., Palchaev D.K. et al. // Russ. J. Appl. Chem. 2021. V. 94. № 7. P. 890. https://doi.org/10.1134/S1070427221070053
- Bertuch A., Sundaram G., Saly M. et al. // Vac. Sci. Technol. A. 2014. V. 32. № 1. P. 01A119. https://doi.org/10.1116/1.4843595
- Plyuto Yu.V., Babich I.V., Plyuto I.V. et al. // Appl. Surf. Sci. 1997. V. 119. № 1–2. P. 11.
- Światowska-Mrowiecka J., de Diesbach S., Maurice V. et al. // J. Phys. Chem. C. 2008. V. 112. P. 11050. https://doi.org/10.1021/jp800147f
- Drake T.L., Stair P.C. // J. Vac. Sci. Technol. A. 2016. V. 34. P. 051403. https://doi.org/10.1116/1.4959532
- Iatsunskyi I., Kempiński M., Jancelewicz M. et al. // Vacuum. 2015. V. 113. P. 52. https://doi.org/10.1016/j.vacuum.2014.12.015
- Potlog T., Dumitriu P., Dobromir M. et al. // MSEB. 2014. V. 4. № 6. P. 163. 10.17265/2161-6221/2014.06.004
- Larsson F., Keller J., Primetzhofer D. et al. // J. Vac. Sci. Technol. A. 2019. V. 37. № 3. P. 030906. https://doi.org/10.1116/1.5092877
- Mackus A.J.M., Schneider J.R., MacIsaac C. et al. // Chem. Mater. 2019. V. 31. № 4. P. 1142. https://doi.org/10.1021/acs.chemmater.8b02878
- Coll M., Napari M. // Appl. Mater. 2019. V. 7. № 11. P. 110901. https://doi.org/10.1063/1.5113656
- Абдулагатов А.И., Максумова А.М., Палчаев Д.К. и др. // Журн. общ. химии. 2022. Т. 92. № 8. С. 1310. https://doi.org/10.31857/S0044460X22080182
- Abdulagatov A.I., Maksumova A.M., Palchaev D.K. et al. // Russ. J. Gen. Chem. 2022. V. 92. № 8. P. 1498. https://doi.org/10.31857/S0044460X22080182
- Du Mont J.W., Marquardt A.E., Cano A.M., George S.M. // ACS Appl. Mater. Interfaces. 2017. V. 9. № 11. P. 10296. https://doi.org/10.1021/acsami.7b01259
- Myers T.J., Cano A.M., Lancaster D.K. et al. // J. Vac. Sci. Technol. A. 2021. V. 39. № 2. P. 021001. https://doi.org/10.1116/6.0000680
- Baltrusaitis J., Mendoza-Sanchez B., Fernandez V. et al. // Appl. Surf. Sci. 2015. V. 326. P. 151. https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2014.11.077
- Choi J.G., Thompson L.T. // Appl. Surf. Sci. 1996. V. 93. № 2. P. 143. https://doi.org/10.1063/1.370690
- Patterson T.A., Carver J.C., Leyden D.E., Hercules D.M. // J. Phys. Chem. 1976. V. 80. P. 1700. https://doi.org/10.1021/j100556a011
- Lee S.Y., Jeon Ch., Kim S.H. et al. // Jpn. J. Appl. Phys. 2012. V. 51. P. 031102. https://doi.org/10.1143/JJAP.51.031102
- Haeberle J., Henkel K., Gargouri H. et al. // Beilstein J. Nanotechnol. 2013. V. 4. P. 732. https://doi.org/10.3762/bjnano.4.83
- Park J., Back T., Mitchel W.C. et al. // Sci. Rep. 2015. V. 5. № 1. P. 14374. https://doi.org/10.1038/srep14374
- Максумова А.М., Бодалев И.С., Сулейманов С.И. и др. // Неорган. материалы. 2023. T. 59. № 4. C. 384. https://doi.org/10.31857/S0002337X2304005X
- Малыгин А.А. // Журн. общ. химии. 2002. T. 72. № 4. C. 617.
Дополнительные файлы
 
				
			 
						 
						 
						 
					 
						 
									

 
  
  
  Отправить статью по E-mail
			Отправить статью по E-mail 






